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          產品列表PRODUCTS LIST

          首頁>產品中心>通用實驗室儀器>顯微鏡>Hatachi日立S-3700N多功能分析型可變壓掃描電子顯微鏡
          Hatachi日立S-3700N多功能分析型可變壓掃描電子顯微鏡

          簡要描述:

          S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
          研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡
          ● Z大可載樣品直徑達300mm
          ● Z大觀察區域直徑達203mm
          ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析
          ● 樣品室設置多種接口,可安裝EDS、WDS、EBSD和CL等多種分析用附件
          ● 5軸優中心馬達臺可以傾斜--20°~+90°
          ● 采用節能,清潔的渦輪分子泵

          更新時間:2018-03-17

          免費咨詢:0731-82222141

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          S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電子顯微鏡

          產品介紹:

          S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡

          研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡

          ● zui大可載樣品直徑達300mm
          ● zui大觀察區域直徑達203mm
          ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析
          ● 樣品室設置多種接口,可安裝EDS、WDS、EBSD和CL等多種分析用附件
          ● 5軸優中心馬達臺可以傾斜--20°~+90° 
          ● 采用節能,清潔的渦輪分子泵

          S-3700N技術參數


          分辨率SE 3.0nm,30KV(高真空模式)
          10nm, 3KV(高真空模式)
          BSE 4.0nm,30KV(低真空模式)
          放大倍率x5~x300,000
          加速電壓0.3~30KV
          低真空范圍6~270Pa
          圖像電位移±50μm (工作距離 10mm)
          zui大裝載樣品直徑300mm


          樣品臺


          X150mm
          Y110mm
          Z5~65mm
          R360°
          T-20°~90°
          觀測區域203mm直徑
          樣品zui大高110mm(工作距離10mm)
          樣品臺類型優中心馬達臺


          電子光學系統


          燈絲預對中燈絲
          物鏡光闌4孔活動光闌4孔活動光闌
          槍偏壓固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏壓
          探測器二次電子探頭
          5分割半導體式被散射探頭
          分析位置工作距離10mm,取出角35°


          顯示控制系統

          控制模式鍵盤鼠標、操縱桿、旋鈕板
          顯示器液晶顯示器
          輔助功能3D動畫演示功能
          電鏡操作導航功能
          樣品操作導航功能
          傾斜補償功能
          存儲圖像精度640 x 480 , 1280 x 960
          2560 x 1920 , 5120 x 3840
          圖片格式BMP, TIFF, JPEG
          圖像顯示模式全屏模式:1280 x 960
          標準模式:640 x 480
          分割模式:640 x 480 點 x 2
          信號混合模式


          真空系統

          控制模式全自動
          分子210升/秒,一臺
          機械泵135升/分,一臺
          保護措施斷電保護、漏氣保護

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